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工業(yè)生產(chǎn)邁向精細化與高質(zhì)量的時代，產(chǎn)品質(zhì)量把控成為企業(yè)立足市場的關鍵。而膜厚測量儀，憑借其精準高效的特性，已然成為工業(yè)檢測領域中重要的得力助手，在眾多行業(yè)發(fā)揮著重要作用。在制造業(yè)中，膜厚測量儀是品質(zhì)保障的“守護者”。以汽車制造為例，車身的涂層厚度不僅影響著車輛外觀的美觀度，更直接關系到其防腐蝕性能。若涂層過薄，車身容易受到外界環(huán)境的侵蝕，縮短使用壽命；涂層過厚，則可能導致涂層開裂、脫落，同樣影響車輛質(zhì)量。膜厚儀能夠快速、準確地測量出車身各部位涂層的厚度，讓生產(chǎn)人員及時發(fā)現(xiàn)并調(diào)...
查看全文用二次諧波色散掃描表征超短激光脈沖（本文譯自CharacterizingultrashortlaserpulseswithsecondharmonicdISPersionscans，IvanSytcevich,ChenGuo,SaraMikaelsson,JanVogelsang,Anne-LiseViotti,BenjamínAlonso,RosaRomero,PauloT.Guerreiro,AnneL’Huillier,HelderCrespo,MiguelMirand...
查看全文如何選擇和使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產(chǎn)品本簡易指南為您提供了關于如何使用飛秒脈沖測量和壓縮器d-scan系列產(chǎn)品及如何選擇型號以匹配您的應用和激光源的指導。我們的產(chǎn)品間的區(qū)別是什么？我們所有的產(chǎn)品都是基于色散掃描技術。每個產(chǎn)品都測量激光的SHG光譜作為色散的函數(shù)，并反演激光脈沖的光譜相位。產(chǎn)品之間的主要區(qū)別在于測量類型(掃描或單發(fā))，可以測量的z短/z長脈沖，以及系統(tǒng)是否也可以同時壓縮脈沖。下表總結了我們?nèi)齻€激光應用產(chǎn)品系列之間的主要區(qū)別。對于雙光子顯微鏡應用，...
查看全文隨著激光技術在工業(yè)制造、醫(yī)療健康、科研實驗及光纖通信等領域的廣泛應用，高功率激光功率計作為激光系統(tǒng)中的關鍵測量設備，其重要性日益凸顯。它能夠精確測量激光的功率，為激光系統(tǒng)的優(yōu)化、性能評估及故障診斷提供重要依據(jù)。本文將從高功率激光功率計的原理出發(fā)，深入探討其不同類型、應用領域及使用要點。(一)光電型光電型激光功率計探頭是通過光電二極管，直接將光能轉換為電流或電壓信號以表征激光功率的大小。光電二極管傳感器的核心部分是PN結，光電二極管實際上是加了一個反向偏壓的PN結，當反向偏壓足...
查看全文調(diào)Q納秒激光器在生物成像領域-光聲成像方面的應用在過去幾十年里，一種被稱為光聲成像（OAI）或光聲成像（PAI）的新型生物醫(yī)學成像模式正從實驗室走向臨床應用。PAI能夠提供結構、血流動力學、功能、氧代謝、基因表達、生物標志物、分子等方面的信息。光聲成像（PAI）是一種新興的成像方式，用于臨床和生物醫(yī)學研究領域。PAI系統(tǒng)使用傳統(tǒng)Q開關的Nd:YAG/OPO（光學參量振蕩器）納秒激光器作為激發(fā)源。這些激光器價格昂貴、體積龐大，脈沖重復率低，成像速度有限。在使用中光聲激發(fā)脈沖的持...
查看全文D7點衍射激光干涉儀用于測量介觀顯微物鏡的檢測方案介觀物鏡，因其具有復雜的光學結構和出色的像差優(yōu)化，可以實現(xiàn)高NA和超大成像FOV，顯著提高光學顯微鏡成像通量的特點而被人們熟知。介觀顯微物鏡可用于廣域成像系統(tǒng)、激光共焦掃描成像系統(tǒng)和雙光子成像等系統(tǒng)，具有重要的研究意義。本文介紹了一種用D7點衍射激光干涉儀測量介觀顯微物鏡的檢測方案，具體方案如下圖所示：1.光源部分1.D7系統(tǒng)的光源為連續(xù)波(CW)單模(SLM)激光器：具有不同波長的相干性，覆蓋了激光器的工作光譜范圍包括:48...
查看全文空間光調(diào)制器（SLM）在大規(guī)?？删幊塘孔幽M器中的應用摘要：近年來，量子計算的快速發(fā)展正在為人類揭示復雜量子系統(tǒng)的物理規(guī)律提供的工具?？删幊塘孔幽M器作為量子計算領域的重要成果，為探索量子現(xiàn)象和解決復雜問題提供了新的途徑。空間光調(diào)制器（Spatiallightmodulator,SLM）憑借其動態(tài)調(diào)控光場相位、振幅和偏振的能力，逐漸成為量子模擬器中的核心元件。SLM主要用于對量子比特進行操控和編碼，為光鑷陣列、冷原子操控以及光子量子態(tài)調(diào)控提供了靈活性。什么是大規(guī)?？删幊塘孔幽?..
查看全文相位偏折術/PDM/偏折測量（Deflectometry）技術簡介摘要：偏折測量技術（PDM）又稱為相位偏折術或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nmRMS,可以用于平面、球面、非球面、離軸拋物面、自由曲面等面型的高精度檢測。具有測量角度大、非接觸、精度高、速度快等特點。偏折測量系統(tǒng)構成：相位偏折測量系統(tǒng)主要由ccd相機、LCD顯示屏和待測件三個部分組成，系統(tǒng)配置如下圖。LCD顯示屏投射提前生成好的結構光正弦條紋，正...
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